桃園2018年3月5日電 /美通社/ -- 致茂電子為量測&智動化Turnkey解決方案領導廠商，將于3月上海SEMICON China展出最新的半導體測試解決方案，搶攻IoT及智慧汽車電子晶片市場。

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統，可提供高達2048個I/O通道且數位通道速率(data rate)較高可達1Gbps的資料速率(data rate)、較高512個平行測試待測物的能力及512MW測試資料記憶體深度，以提供較低的測試成本且滿足復雜SoC的測試應用需求。應用范圍包含微控制器(MCU)、數位音訊、數位電視、機頂盒、數位信號處理器(DSP)、網路處理器(Network Processor)、現場可程式邏輯門陣列(FPGA)及消費性電子IC應用市場等測試方案。

HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和訊號解決方案，為Chroma 3680的選購模組，擁有可同時輸出的8個差動源模組(AWG)和同時接收的8個差動測量模組(DGT)，且在每一個差動源模組(AWG)上能提供高達400Msps的取樣頻率和在每一個差動測量模組(DGT)上能提供高達250Msps的取樣頻率，具有高規格、低成本和多功能等優勢，適用于標準的基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及DTV等廣泛的混合訊號測試應用。

搭配于3680上所開發的CRISPro軟體套件，讓使用者可以用圖形化介面(GUI)或程式語言做測試程式的開發，加上支援可同時測試(Concurrent Testing)的功能，以降低測試程式的時間，加快產品的量產速度。

Chroma 33010 PXIe 數位 IO Card：為PXIe 架構，且具備自動測試系統(ATE)功能，Chroma除提供傳統之ATE自動測試系統(Chroma 3380D：256 CHs / 3380P：512 CHs / 3380：1280 CHs ) 外，亦提供符合未來PXI 測試方案發展應用之趨勢及需求，以因應未來更小IC通道及愈趨復雜功能之趨勢，尤其在 IoT 及車用感測IC測試上，PXI/PXIe架構在半導體測試無論在應用多變和彈性上都有一定優勢。應用范圍包含微控制器、微機電(MEMS)感測器、射頻IC(RF IC) 及電源IC (PMIC) 等測試方案。

Chroma 3200L-6光纖DC/RF測試系統，應用于光學模組(OSA, box package)的DC與RF檢測，具備光纖自動清潔與檢測、光纖視覺定位與自動插拔、探針視覺定位與接觸控制，探針重復精準度可達正負40um，支援工程實驗單站式與量產整線式兩種模式，提高導入彈性，大幅降低人力與測試損耗成本。

Chroma半導體測試設備整合MP5806 射頻(RF) ATE測試專用機，涵蓋6GHz范圍內的無線測試規范，擁有4/8 RF Port及120MHz 頻寬。應用范圍包含WiFi/BT/GNSS/NB-IoT/LoRa等無線通訊與IoT應用及RF元件測試( PA/LNA/Converter等)，提供RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)測試解決方案。

2018 SEMICON China (3月14-16日)，致茂電子將于上海新國際博覽中心（SNIEC）（攤位號: 3165）展出嶄新的半導體測試解決方案，致茂電子誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢，期待在此年度盛會中與您見面。